TrackProbe跟踪式光笔测量系统，由手持测量光笔i-Probe和新一代光学跟踪器i-Tracker组成，专为计量级精度测量量身打造。整个系统凭借其高精度、高便携性和高易用性的特点，能轻松应对大范围、远距离及复杂严苛环境的测量需求。

面对生产车间现场，从夹具调装到基准划线测量、从小型零部件到大型工件如工程机械结构件尺寸检测，TrackProbe跟踪式光笔测量系统都能随时随地、无所拘束地开展高精度三维测量。

广泛可扩展的测量范围

搭配具有超远可视范围的跟踪器i-Tracker，i-Probe测量光笔标准工作距离为6m，单站最远测量距离可至10m，实现大型项目一站式高精度三维测量。

性能强大 精密计量

凭借高精度的光学传感器技术和算法性能，能够精确地探测和测量被测对象的几何特征及形位公差。测量范围在49.0m³范围内，体积精度可达0.089mm；28.6m³范围内，体积精度可达0.067mm；10.4m³范围内，体积精度可达0.049mm。